美國Megger S1-1054絕緣電阻測試儀
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產(chǎn)品名稱:
美國Megger S1-1054絕緣電阻測試儀
產(chǎn)品型號:
Megger電阻測試儀總代理在哪
產(chǎn)品展商:
其它品牌
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簡單介紹
美國Megger S1-1054絕緣電阻測試儀
▲全新的S1-1054/2絕緣電阻測試儀是MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來測試和維護(hù)高壓設(shè)備的很好儀器。
▲IEEE43-2000引薦運(yùn)用者能夠運(yùn)用S1-1054/2來測試額定超越12KV的電動機(jī)的繞組。
美國Megger S1-1054絕緣電阻測試儀 的詳細(xì)介紹
美國Megger S1-1054絕緣電阻測試儀是可變自動停止測試的絕緣電阻測試儀。
美國Megger S1-1054絕緣電阻測試儀產(chǎn)品簡介：
?220V電源和電池供電
?數(shù)字和模仿背光顯現(xiàn)
?測試電壓從50V到10000V可變
?自動停止I、R、PI、DAR、SV和DD測試
?測試阻抗可達(dá)35TΩ輸出電流5mA
?RS232和USB傳輸端口，輸出測試數(shù)據(jù)
?測試數(shù)據(jù)能貯存在儀器中
美國Megger S1-1054絕緣電阻測試儀產(chǎn)品特性：
▲全新的S1-1054/2絕緣電阻測試儀是MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來測試和維護(hù)高壓設(shè)備的很好儀器。
▲IEEE43-2000引薦運(yùn)用者能夠運(yùn)用S1-1054/2來測試額定超越12KV的電動機(jī)的繞組。
▲雙路電源輸入設(shè)計(jì)：可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電，也能夠由儀器內(nèi)置能夠充電電池供電。這樣有一個益處就是要測試的場所不分明能否有電源或者測試周期不分明的時分，都能夠來停止測試。
▲數(shù)字/模仿雙顯現(xiàn)測試結(jié)果
▲測試電壓由 50V至10KV 可調(diào)
測試電壓在 50V-1000V 的范圍里以10V（步進(jìn)）微調(diào)，1000V-10000V的范圍里以25V（步進(jìn)）微調(diào)。
▲絕緣電阻丈量測試范圍擴(kuò)展為35TΩ,用于對高質(zhì)量絕緣資料的絕緣趨向剖析等。
▲短路電流：5mA
▲測試電流范圍：0.01mA~5mA
▲抗干擾：4mA rms
▲全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯現(xiàn)屏使操作者在陽光下或者光線很暗的狀況下輕松讀出數(shù)據(jù)。
▲絕緣電阻測試儀顯現(xiàn)的信息：絕緣阻值，實(shí)時測試電壓，走漏電流，等效電容，電池狀態(tài)和時間常數(shù)。同時，每次測試時LCD上還會顯現(xiàn)已測試時間，這就不需求在測試時額外計(jì)時。
▲絕緣電阻測試儀內(nèi)置了多個計(jì)時器，還具備絕緣測試設(shè)限告警功用。
▲儀器上還帶有一個接地端子，使儀器能進(jìn)步其精性。
▲儀器的標(biāo)號分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，便當(dāng)貯存或者運(yùn)輸?shù)臅r分識別。
▲儀器的控制的操作都分明的寫在儀器隨機(jī)器附帶的闡明書里面。
美國Megger S1-1054絕緣電阻測試儀產(chǎn)品功用：
內(nèi)置多種自動測試程序：
▲IR 絕緣電阻測試、
▲DAR 吸收比測試 （介電吸收率）、
▲PI 很化指數(shù)測試、
▲SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測試
▲DD 測試 （介質(zhì)放電））
▲測試上限擴(kuò)展：35TΩ
▲提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù)
▲儀器內(nèi)置32KB存儲器可保管測試結(jié)果：電壓，測試時間，走漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD
美國Megger S1-1054絕緣電阻測試儀儀器參數(shù)
我們會努力依照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯，如技術(shù)參數(shù)中英文有差別，以英文參數(shù)為準(zhǔn)。
美國Megger S1-1054/2絕緣電阻測試儀技術(shù)參數(shù)：
輸入電壓
95-240 V 50Hz
電池壽命
在10 kV測試電壓下連續(xù)工作4小時
測試電壓（DC）
50 V 到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓,
1 kV 到 10 kV 以25V為步進(jìn)電壓
精度
±5% 在 1 TΩ范圍內(nèi)
（23°C）
±20% 在 20 TΩ范圍內(nèi)
輸出電流
5mA
充電時間
在 5mA / 10 kV狀態(tài)下充電時間≤ 3 s / μF
放電時間
放電從10000 V 到 50 V≤ 250ms/μF
電容丈量
10 nF 到 50 μF （取決于測試電壓）
電容丈量精度
±5% ±5 nF
（23°C）
電壓輸出精度
根本測試電壓的 +4% @ 1GΩ
（0°C-30°C）
±25V非標(biāo)測試電壓（<500V）
測試電流范圍
0.01 mA 到 5 mA
丈量電流精度
±5% ±0.2 mA
（23°C）
顯現(xiàn)
3位數(shù)字/模仿顯現(xiàn)
抗干擾
4mA rms @ 200 V
定時器范圍
很高定時間99:59
內(nèi)存容量
32KB
其它測試性能
IR、 PI、 DAR、SV 、 DD
傳輸接口
RS232 和 USB
數(shù)據(jù)存儲
電壓，測試時間，走漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD
實(shí)時輸出
能時斷時續(xù)的輸出測試電壓，電流和阻抗
外形尺寸
305 mm ×194 mm ×360 mm
重量
約7．1公斤
產(chǎn)品持有證書
CE
備注：以上所列產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)及參數(shù)僅供參考，實(shí)踐指標(biāo)及參數(shù)以廠商產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范為準(zhǔn)。
絕緣電阻測試儀測試指標(biāo)名詞解釋
（PI）
很化指數(shù)測試
很化指數(shù)：在同一次實(shí)驗(yàn)中，10min時的絕緣電阻值與1min時的絕緣電阻值之比。
（DAR）
感應(yīng)吸收比（誘電吸收比）測試
吸收比：在同一次實(shí)驗(yàn)中，60s時的絕緣電阻值與15s時的絕緣電阻值之比。
（SV）
步進(jìn)電壓測試
（DD）
介質(zhì)放電（誘電體放電）
絕緣電阻,吸收比,很化指數(shù)之間的關(guān)系
當(dāng)說吸收比時，應(yīng)該說到絕緣電阻很化指數(shù)
絕緣電阻
在絕緣構(gòu)造的兩個電很之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對電很的走漏電流值之比。
R=U/I，常用單位：（MΩ）兆歐
10KV系列絕緣電阻測試儀選型及功用對照表
產(chǎn)品型號
MIT1020/2
S1-1052/2
S1-1054/2
絕緣電壓測試范圍
50~10,000V（可步進(jìn)調(diào)理）
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絕緣測試
絕緣電阻測試顯現(xiàn)范圍（很大顯現(xiàn)數(shù)字讀數(shù)）
35 T Ω
35 T Ω
35 T Ω
絕緣電阻測試顯現(xiàn)范圍（很小顯現(xiàn)數(shù)字讀數(shù)）
10 k Ω
10 k Ω
10 k Ω
絕緣電阻測試顯現(xiàn)范圍（很大顯現(xiàn)模仿讀數(shù)）
1 T Ω
1 T Ω
1 T Ω
絕緣電阻測試顯現(xiàn)范圍（很小顯現(xiàn)模仿讀數(shù)）
100 k Ω
100 k Ω
100 k Ω
功用
很大輸出電流
5mA
5mA
5mA
短路電流
3mA
5mA
5mA
抗干擾YZ
2mA
2mA
4mA
自動停止試品IR走漏電流測試
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自動丈量絕緣電阻
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DAR吸收比測試（介電吸收率）
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PI 很化指數(shù)測試
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SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測試
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DD 測試 （介質(zhì)放電）丈量
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內(nèi)置定時器器
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內(nèi)置32KB存儲器
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顯現(xiàn)
數(shù)字和模仿雙重顯現(xiàn)
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顯現(xiàn)測試電壓
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顯現(xiàn)試品充電時間
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顯現(xiàn)充電電流
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顯現(xiàn)時間
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▲絕緣電阻測試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)規(guī)范絕緣測試程序，可完成全自動測試，提供全局部析結(jié)果：
▲絕緣電阻測試儀外殼由硬塑聚炳烯制造，由于在消費(fèi)過程中經(jīng)過特殊處置，因而特別鞏固耐用，而且輕巧便于攜帶，契合IP65規(guī)范。
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